Depuis 2006, l’Europe interdit l’utilisation de plomb dans les circuits électroniques… lequel empêche pourtant un mystérieux « mal de l’étain » de provoquer des courts-circuits !
La maladie n’est pas nouvelle
Des satellites aux montres, quantité d’appareils sont concernés. Si des dysfonctionnement en série ont déjà eu lieu, tout semble aujourd’hui réuni pour que le fléau se propage…
Lundi 9 avril 2007, centrale nucléaire de Dampierre-en-Burly (Loiret). Il est 20h37 quand les responsables du réacteur numéro 3 constatent la défaillance d’un relais électrique alimentant d’indispensables systèmes de secours. Il s’ensuit alors une série de couacs conduisant à l’arrêt en urgence du cœur atomique. L’explication de cet incident sérieux ? Après enquête le verdict tombe: le dit réacteur nucléaire a en fait été victime d’un court -circuit suite à la formation d’un minuscule filament métallique d’étain entre deux composant électroniques .
Largement méconnu du grand public, ce n’est pourtant pas la première fois que sévissait dans le monde un tel brin d’étain: au cours de ces vingt dernières années, au moins quatre autres centrales nucléaires, huit satellites de télécommunication, plusieurs programmes de missiles , des terminaux téléphoniques ou encore des appareils médicaux ont connu pareilles mésaventures, tournant parfois au désastre !
La maladie n’est pas nouvelle. C’est pendant la Seconde Guerre mondiale que l’on répertorie les premiers cas de whiskers (en anglais). Or, cette pathologie connu depuis soixante-dix ans reste mal comprise. Et elle inquiète aujourd’hui plus que jamais industriels et scientifiques.
Il faut savoir que l’on utilise forement l’etain pour le revêtement des circuit imprimés et la soudure des terminaisons des composants. Ce métal est abondant, facile à mettre en œuvre, résistant à la corrosion et bien sur conducteur. Son seul défaut: sa fâcheuse tendance à former, au fil du temps, des filaments pouvant atteindre un centimètre de longueur.
Inquiétante interdiction du plomb
Si, jusqu’ici, une hécatombe électronique a pu être évitée, on le doit à l »opérateur téléphonique américain AT&T: » après avoir été victime de whiskers en 1948, ses laboratoires ont alors tenté de mélanger à l’étain différent éléments. Après dix an de test, il en est ressorti que le plomb parvenait à freiner grandement ce phénomène ». Depuis cette période, tout l’industrie a appliqué cette recette pour éviter ainsi les accidents.
Les industriels tâtonnent pour écarter le péril qui menace désormais les équipements électroniques. Résultat, entre certaines tentatives de parades plutôt coûteuses; via l’ajout de nickel, de bismuth ou d’argent, aucune méthode n’apparait aussi efficace que l’ajout de plomb. On ne maitrise donc pas cette maladie. Raison pour laquelle seuls les secteurs à haut risque (militaire, aéronautique, nucléaire , médical) on toujours le droit d’utiliser l’ancienne recette.
inquiétude exagérée ?
Depuis la décision européenne de 2009, aucun désastre électronique n’a fait sensation. Inquiétude exagérée ? A voir ! Car les whiskers représentent une vérité qui dérange et ces cas-là ne s’ébruitent souvent que par le bouche à oreille. Parce que les annonces de ces défaillances électroniques sont rapidement étouffées ou jamais publiées. Car pour ne rien arranger, repérer ce fil requiert un matériel optique et une luminosité spécifiques. Ainsi, moins de 10% des cas de whiskers seraient correctement identifiés… En ce qui concerne les produits de grande consommation, l’ampleur des défaillance liées à cette maladie reste totalement inconnue, car ils sont jetés avant enquête.
Au final, entre ignorance du phénomène, tabou et difficulté de détection, il est tentant de voir en ces brin d’étain la cause de bon nombre de défaillance électronique inexpliquées du dernier demi-siècle. La croissance des whiskers se révèle majoritairement dans les produits grand public au bout de cinq à six ans.
Rendez-vous en 2014-2015 😉